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    掃描電鏡SEM

    簡要描述:vFE-SEM獲得的圖像分辨率高,信息豐富,樣品處理相對簡單,并且它可以觀察、測量并分析樣品的細微結(jié)構(gòu),因此被廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、半導體、電子器件、生命科學、材料等領(lǐng)域v電子槍種類:冷場發(fā)射v二次電子圖象分辨率:0.6nm@15kV

    基礎(chǔ)信息

    產(chǎn)品型號

    廠商性質(zhì)

    代理商

    更新時間

    2024-10-22

    瀏覽次數(shù)

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    詳細介紹

    v FE-SEM獲得的圖像分辨率高,信息豐富,樣品處理相對簡單,并且它可以觀察、測量并分析樣品的細微結(jié)構(gòu),因此被廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、半導體、電子器件、生命科學、材料等領(lǐng)域

    v 電子槍種類:冷場發(fā)射

    v 二次電子圖象分辨率:0.6 nm@15kV;0.7nm@1kV

    v 放大倍數(shù):20-2,000,000x

    v 加速電壓:0.5-30kV


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