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霍爾效應(yīng)測(cè)試儀

簡(jiǎn)要描述:v系統(tǒng)功能:用于測(cè)量半導(dǎo)體材料的電阻率/電導(dǎo)率、流動(dòng)性、散裝/片狀載體濃度、摻雜類型、霍爾系數(shù)、磁阻、垂直/水平阻力比的半導(dǎo)體高性能霍爾系統(tǒng)

基礎(chǔ)信息

產(chǎn)品型號(hào)

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代理商

更新時(shí)間

2024-10-22

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詳細(xì)介紹

v 系統(tǒng)功能:用于測(cè)量半導(dǎo)體材料的電阻率/電導(dǎo)率、流動(dòng)性、散裝/片狀載體濃度、摻雜類型、霍爾系數(shù)、磁阻、垂直/水平阻力比的半導(dǎo)體高性能霍爾系統(tǒng)。模塊化設(shè)計(jì)理念,允許輕松升級(jí),該系統(tǒng)適用于各種材料,包括硅和化合物半導(dǎo)體和金屬氧化物膜等

v 該系統(tǒng)具有低電阻率和高電阻率測(cè)量功能,具有雙重溫度功能和一個(gè)可選的低溫恒溫器,可擴(kuò)展該系統(tǒng)溫度范圍從90K500K

v 方塊電阻量程:10-4 Ω/sq ~ 106Ω/sq

v 載流子濃度量程:106 ~ 1021 cm-3

v 載流子遷移率量程:1 ~ 107 cm

v 四個(gè)微調(diào)探針座,探針直接形成ohm接觸,無(wú)需焊線或制作PCB

v 樣品測(cè)量直徑:25mm


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